VT 5035-1型德國REXROTH電路板用于帶有 EO1 和 EO2 調(diào)節(jié)的 AV4VSO 和 AV4SG 或帶有 EO2 調(diào)節(jié)的 AVCSG 的電動體積流量控制。

放大器控制轉(zhuǎn)角調(diào)節(jié)缸的比例閥并根據(jù)的設(shè)定值調(diào)節(jié)其位置。擺動角的位置記錄為實(shí)際值。

設(shè)定值輸入 1 至 4 可用于通過激活相關(guān)繼電器（K1 至 K4）來調(diào)用設(shè)定值 [1]。設(shè)定點(diǎn)電壓直接由內(nèi)部電源 [10] 的調(diào)節(jié) ± 9 V 電壓或通過外部設(shè)定點(diǎn)電位計(jì)。對于這些輸入，± 9 V ? 100% 適用。設(shè)定點(diǎn) 1 到 4 的參考電位是 M0。如果這四個(gè)設(shè)定點(diǎn)輸入直接連接到穩(wěn)壓電壓 ± 9 V，則可以在電位計(jì)“w1"到“w4"上設(shè)置四個(gè)不同的設(shè)定點(diǎn)。在這些輸入端使用外部設(shè)定點(diǎn)電位器時(shí)，如果內(nèi)部電位器未設(shè)置為最大值，則它們將用作衰減器或限制器。

VT 5035-1型德國REXROTH電路板檢測維修如下：

一.帶程序的芯片
1.EPROM芯片一般不宜損壞.因這種芯片需要紫外光才能擦除掉程序, 故在測試中不會損壞程序.但有資料介紹:因制作芯片的材料所致,隨著時(shí)間的推移(年頭長了),即便不用也有可能損壞(主要指程序).所以要 盡可能給以備份.
2.EEPROM,SPROM等以及帶電池的RAM芯片,均極易破壞程序.這類芯片 是否在使用<測試儀>進(jìn)行VI曲線掃描后,是否就破壞了程序,還未有定論.盡管如此,同仁們在遇到這種情況時(shí),還是小心為妙.筆者曾經(jīng)做過 多次試驗(yàn),可能大的原因是:檢修工具(如測試儀,電烙鐵等)的外殼漏電 所致.
3.對于電路板上帶有電池的芯片不要輕易將其從板上拆下來.
二.復(fù)位電路
1.待修電路板上有大規(guī)模集成電路時(shí),應(yīng)注意復(fù)位問題.
2.在測試前最好裝回設(shè)備上,反復(fù)開,關(guān)機(jī)器試一試.以及多按幾次復(fù)位鍵.

三.功能與參數(shù)測試
便攜顯微鏡進(jìn)行電路板檢測
便攜顯微鏡進(jìn)行電路板檢測
1.<測試儀>對器件的檢測,僅能反應(yīng)出截止區(qū),放大區(qū)和飽和區(qū).但不 能測出工作頻率的高低和速度的快慢等具體數(shù)值等.
2.同理對TTL數(shù)字芯片而言,也只能知道有高低電平的輸出變化.而無 法查出它的上升與下降沿的速度.
四.晶體振蕩器
1.通常只能用示波器(晶振需加電)或頻率計(jì)測試,萬用表等無法測量, 否則只能采用代換法了.
2.晶振常見故障有:a.內(nèi)部漏電,b.內(nèi)部開路c.變質(zhì)頻偏d.外圍相連電 容漏電.這里漏電現(xiàn)象,用<測試儀>的VI曲線應(yīng)能測出.
3.整板測試時(shí)可采用兩種判斷方法:a.測試時(shí)晶振附近既周圍的有關(guān) 芯片不通過.b.除晶振外沒找到其它故障點(diǎn).
便攜式顯微鏡檢測電路板
便攜式顯微鏡檢測電路板
4.晶振常見有2種:a.兩腳.b.四腳,其中第2腳是加電源的,注意不可隨 意短路.五.故障現(xiàn)象的分布 　1.電路板故障部位的不*統(tǒng)計(jì):1)芯片損壞30%, 2)分立元件損壞30%,
3)連線(PCB板敷銅線)斷裂30%, 4)程序破壞或丟失10%(有上升趨勢).
2.由上可知,當(dāng)待修電路板出現(xiàn)聯(lián)線和程序有問題時(shí),又沒有好板子,既 不熟悉它的連線,找不到原程序.此板修好的可能性就不大了.

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